Розпочала роботу Школа-симпозіум молодих науковців «Рентгенівська порошкова дифракція. Аналіз багатофазних зразків»

2 грудня 2021 року у Львівському національному університеті імені Івана Франка стартувала VІІІ Школа-симпозіум молодих науковців «Рентгенівська порошкова дифракція. Аналіз багатофазних зразків». Захід організували кафедра неорганічної хімії хімічного факультету ЛНУ ім. Івана Франка, Західний науковий центр НАН України і МОН України та Комітет кристалографів України за підтримки Міжнародного центру дифракційних даних (ICDD, США), Науково-консультаційної компанії «Структура-властивості» (м. Львів) та Львівського конференц-бюро в рамках проєкту «Пакет підтримки розвитку конференц-індустрії у м. Львові» Львівської міської ради. Подія відбувається у дистанційному режимі.

Рентгенівські дифракційні дослідження кристалічної структури речовин започатковано на кафедрі неорганічної хімії в 50-х роках минулого століття і вони плідно розвиваються сьогодні. Здобутки та великий науковий досвід вчених кафедри вказують на її пріоритет в цьому напрямі. Мета Школи-симпозіуму – ознайомити науковців із сучасними рентгенівськими дифракційними методами дослідження будови речовини, продемонструвати спеціальне обладнання та експериментальне використання рентгенівської дифракції, а також удосконалити навики в розрахункових методах рентгенофазового та рентгеноструктурного аналізу. Загалом для участі у цьогорічній Школі зареєструвалось 139 осіб із 22 наукових та освітніх установ України.

Учасників наукового форуму привітав проректор з наукової роботи Львівського національного університету імені Івана Франка, академік НАН України, професор Роман Гладишевський. Він розповів про діяльність кафедри неорганічної хімії, пригадав важливі моменти в історії розвитку кристалографії і дифракційних методів дослідження. «Рентгенівська порошкова дифракція є дуже корисним методом, завдяки якому можна визначити розташування атомів у просторі, встановити координати цих положень, параметри коливань тощо. Кристалографії і застосуванню дифракції вже понад 100 років, але вони все ще перебувають на стадії свого розвитку. Школа-симпозіум молодих науковців «Рентгенівська порошкова дифракція. Аналіз багатофазних зразків» – це поєднання лекцій відомих вчених з практичними заняттями. Тематика форуму присвячена можливостям сучасної порошкової дифракції аналізувати багатофазні зразки. Я радий бачити велику кількість учасників з усієї України і сподіваюся, що здобуті сьогодні і завтра знання стануть в нагоді у вашій науковій діяльності», – наголосив Роман Євгенович.

Надалі учасники Школи-симпозіуму мали змогу відвідати лекції, майстер-класи та взяти участь у наукових дискусіях. Так, з основами рентгенівської порошкової дифракції ознайомив провідний науковий співробітник кафедри неорганічної хімії Львівського національного університету імені Івана Франка Лев Аксельруд. А одразу ж після лекції відбувся майстер-клас Лева Аксельруда та старшого наукового співробітника кафедри неорганічної хімії Ярослава Токайчука «Індексування порошкограм багатофазних зразків».

Наступний майстер-клас з дослідження мікроструктурних ефектів у матеріалах провів провідний науковий співробітник кафедри неорганічної хімії Павло Демченко. А останнім заходом у програмі першого дня роботи школи-симпозіуму стала лекція директора Центру рентгенівської кристалографії Університету Меріленду (США) Петра Завалія «Crystal Structure Determination from Powder Diffraction Data: Modern Methods and Software».

VІІІ Школа-симпозіум молодих науковців «Рентгенівська порошкова дифракція. Аналіз багатофазних зразків» триватиме до 3 грудня. Програмою другого дня заходу передбачені два майстер-класи: Лев Аксельруд та Ярослав Токайчук навчатимуть визначати симетрію структури речовин з дифрактограм, а науковий співробітник кафедри неорганічної хімії ЛНУ ім. Івана Франка і Центру колективного користування науковим обладнанням «Лабораторія матеріалознавства інтерметалічних сполук» Василь Кордан детально розповість про скануючу електронну мікроскопію.

Також у форматі лекцій доцент кафедри неорганічної хімії Львівського національного університету імені Івана Франка Василь Заремба опише методи металографічних досліджень, а виконавчий директор і головний науковий співробітник Міжнародного центру дифракційних даних (ICDD, США) Томас Блантон прочитає лекцію на тему «Advanced Materials Characterization Using Powder Diffraction Techniques and the Powder Diffraction FileTM».

З програмою, матеріалами і завданнями VІІІ Школи-симпозіуму молодих науковців можна ознайомитися за посиланням.

Більше фото